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發(fā)格自動(dòng)化持續(xù)推進(jìn)納米測量技術(shù)的研發(fā)
在發(fā)格Aotek技術(shù)中心,發(fā)格自動(dòng)化與 IK4-Tekniker合作,成功制造出符合“國際體系溯源”標(biāo)準(zhǔn)的納弧級(jí)角度測量設(shè)備,實(shí)現(xiàn)了納米重復(fù)性的準(zhǔn)確測量,角度測量精度達(dá)10納弧度。
對于發(fā)格自動(dòng)化來說,測量元件的準(zhǔn)確度必須保證要大于被測物體的準(zhǔn)確度的十倍,所以測量元件的精度為納米級(jí)和皮米級(jí)。
實(shí)際測量時(shí),從角度尺度到線性尺度(納米)距離小至0.8納米,從而消除了8納米的測量不確定性。(0.8納米大約是2個(gè)水分子大小)。
發(fā)格自動(dòng)化正在積極參加 “JRP 58 Angles” 項(xiàng)目的的研發(fā),該項(xiàng)目的重點(diǎn)是將“弧度測量”的不確定度降低到0.01弧秒,實(shí)現(xiàn)低至2納米的重復(fù)測量精度。
測量元件的納米級(jí)精度是確保納米設(shè)備產(chǎn)業(yè)化的關(guān)鍵因素,所有這些將促進(jìn)科學(xué)、航空航天、信息通信技術(shù)和汽車行業(yè)的進(jìn)一步發(fā)展。
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